可测性设计(DfT)

Dft

系统级芯片设计和验证过程中良好的可测性设计操作规范有助于缩短上市时间和降低生产成本。英盛德可测性设计咨询团队可确保可测芯片的最佳测试时间。作为外包项目的参与者或设计团队的固有成员,英盛德可提供与您目标测试覆盖范围相对应的可测性设计专有技术。

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